蔡司Xradia Context 微米CT

[產(chǎn)品簡介]

蔡司Xradia Context 微米CT ，是一款大觀察視野、無損 3D X射線微焦點計算斷層掃描系統(tǒng)。可滿足多種 3D 表征和檢測需求的成像解決方案，不僅能夠在3D全景中展示完整大樣品的內(nèi)部細節(jié)，還能針對小樣品使用大的幾何放大倍數(shù)實現(xiàn)高分辨率和高襯度成像觀察細節(jié)特征。Xradia Context 建立在歷經(jīng)考驗的蔡司Xradia平臺之上，圖像質(zhì)量、穩(wěn)定性和易用性均屬上乘，且具備高效的工作流環(huán)境和高通量掃描功能。兼容ART3.0高級重構工具箱，利用AI技術提高成像效率或改善成像質(zhì)量。

[產(chǎn)品特點]

ü                      實測體素分辨率可達500nm

ü                      大視野成像能力，單次掃描即可對寬度達 140 mm、高度達 93 mm 的大樣品進行成像

ü                      出色的高純度 X 射線濾光片，可根據(jù)樣品進行射線硬化矯正

ü                      強大的自動漂移校正模式，先進的射線硬化去除算法

ü                      先進的特殊算法保證獲取優(yōu)秀的成像質(zhì)量

ü                      高硬件配置，包括穩(wěn)定的源、靈敏的探測器以及高精度4軸馬達臺等

ü                      用戶可自定義樣品任意位置局部放大成像

ü                      易用的操作流程

ü                      可升級為X射線顯微鏡

[應用領域]

ü                      材料科學，如三維無損分析

ü                      生命科學，如微觀結構成像

ü                      地球科學，如三維成像

ü                      工業(yè)領域，如檢測分析

材料科學                                  生命科學

地球科學                                   工業(yè)檢測