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线扫描膜厚仪离线型

具体成交价以合同协议为准

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


大塚电子(苏州)有限公司成立于20074月,致力于让中国客户能安心使用已有50年历史的日本大塚电子所研发与生产的测量与分析设备。

我们的产品涵盖LEDOLED等光源和照明行业,产品包括有液晶和有机EL显示行业的光学特性评估与检测设备;用于测量半导体晶圆和薄膜化学品厚度的设备;以及评估墨水、研磨剂、医药和化妆品材料的纳米颗粒(粒径和ζ电位测量)设备,这些设备均应用了我们的“光”技术。

在日本,我们的产品拥有众多交付实绩。为提供全面的售前和售后支持,我们设立了技术和维护中心,努力提供快速、令客户满意并能使客户感受到关怀和价值的服务。

我们致力于不断提升产品价值和支持服务,做到让客户能主动向他人推荐大塚电子的产品。

我们是大塚集团的一员,继承了集团的企业理念「Otsuka-people creating new products for better health worldwide

以及大塚集团历代的3个思想,即「流汗悟道」「实证」「创造性」,并以此行动。我们推出创新产品,开展业务,为社会做出贡献。

对于那些挑战可能性边界的人来说,天空是无限的。超越它,就会有一个全新的前沿世界。

利用大塚电子的技术“光”的力量,为业界提供解决方案是我们的使命。

Otsuka-people creating new products for better health worldwide

传承大塚的“实证与创造”精神,时刻为了实践“因为是大塚所以能做到”、"只有大塚才能做到"的口号而努力奋斗。

大塚电子,通过革新的且富有创造性的产品(设备)服务,在「健康和生活」的领域,不断地为人民的生活做着贡献。



zeta电位?粒径?分子量测量系统,晶圆在线测厚系统,线扫描膜厚仪,显微分光膜厚仪,线扫描膜厚仪,分光干涉式晶圆膜厚仪,相位差膜?光学材料检测设备,非接触光学膜厚仪,小角激光散射仪,多检体纳米粒径量测系统,量子效率测量系统

产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 医疗卫生,化工,电子/电池,包装/造纸/印刷,电气

线扫描膜厚仪离线型

产品信息

特点

·全面·高速·高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测

·硬件·软件均为创新设计

·作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援

·实现高精度测量

·实现高速测量(500万点以上/分)

式样

测量位置膜厚(FFT)
位置分解能1mm以下
测量尺寸大250mm宽×无限长度限制
波长范围400~920nm
各单元的波长范围约0.6nm
膜厚测量范围2~250μm
测量间隔100msec~
装置尺寸W600×D680×H1250mm

 

测量例

250mm宽的薄膜案例

 

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