Dexela1207/1512/2307/2315 Dexela2923数字射线平板探测器
| 参考价 | ￥ 100000 |
| 订货量 | ≥1 件 |
- 公司名称 增宜检测技术（上海）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型号 Dexela1207/1512/2307/2315
- 产地 美国
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2023/6/29 12:52:39
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增宜检测技术（上海）有限公司是一家专注于无损检测设备，理化分析计量仪器，实验室科研器材销售及服务的一站式集成供应商。公司代理许多上享誉*的先进产品。
我们提供的工业产品包括超声波检测仪、涡流仪、激光间隙测量仪、X射线机、平板探测器、磁粉探伤机、着色渗透剂、声发射检测仪器、泄漏仪、内窥镜、显微镜、硬度计、合金光谱仪、金相分析仪、红外热像仪及其它实验室试验检测设备。
我们的产品广泛应用于造船、汽车、铁路、航空、石化、冶金、风电、核工业、军工、特检和高校科研等多个行业领域，并赢得了广大用户的良好口碑。
公司秉承“至信卓业，客户至上”的经营宗旨，崇尚“专业，高效，共赢”的服务理念，为广大客户提供优质的产品，优质的服务。我们期待成为您长期且可信赖的合作伙伴。
主要代理如下公司产品：
奥林巴斯测厚仪/探伤仪/显微镜/内窥镜/光谱仪
Third Dimension英国三维激光间隙测量仪
ZETEC探伤仪
GE美国通用电气测厚仪/探伤仪/显微镜/内窥镜/射线机
万睿视平板探测器/管头
Eddyfi & M2M探伤仪
美国磁通磁粉渗透
Eddyfi & M2M探伤仪
奥林巴斯超声波相控阵OMNISCAN MX2，英国三维Third Dimension GapGun Pro激光间隙测量仪，美国万睿视Varex射线数字平板探测器，奥林巴斯超声波探伤仪，奥林巴斯涡流探伤仪，内窥镜，元素分析仪，美国磁粉渗透
| 应用领域 | 医疗卫生,能源,钢铁/金属,航空航天,汽车及零部件 |
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Dexela2923数字射线平板探测器
为了获得用于非破坏性测试成像的高分辨率的图像质量，请升级到1207N Varex Imaging CMOS（互补金属氧化物半导体）X射线平板探测器。
1207N CMOS平板探测器是具有出色灵敏度的高速，低噪声X射线探测器。 该探测器采用的大面积CMOS图像传感器技术，并提供了一系列闪烁器和接口选项。
CMOS平板检测器具有可切换的像素增益，这使其非常适合实时和计算机断层扫描（CT）成像以及具有高动态范围的静态成像。
1207N平板探测器的功能和优点包括：
- 74.8μm像素间距
- 1536 x 864像素
- 高灵敏度和高动态范围模式
- 高工作电压160 kV
- 适用于高达191 fps的实时成像
- 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并选项
- 高DQE
- 各种闪烁器选项
- X射线发生器同步的输入/输出
- Camera Link或GigE Vision数据连接
1512N
为了获得用于非破坏性测试成像的高分辨率的图像质量，请升级到1512N Varex Imaging CMOS（互补金属氧化物半导体）平板探测器。
1512N CMOS平板探测器是具有出色灵敏度的高速，低噪声X射线探测器。 该探测器采用的大面积CMOS图像传感器技术，并提供了一系列闪烁器和接口选项。
CMOS平板检测器具有可切换的像素增益，这使其非常适合实时和计算机断层扫描（CT）成像以及具有高动态范围的静态成像。
1512N平板探测器的功能和优点包括：
- 74.8μm像素间距
- 1944 x 1536像素
- 高灵敏度和高动态范围模式
- 高225 kV的操作
- 适用于高达86 fps的实时成像
- 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并选项
- 高DQE
- 各种闪烁器选项
- X射线发生器同步的输入/输出
- Camera Link或GigE Vision数据连接
2315N
CMOS平板检测器具有可切换的像素增益，这使其非常适合实时和计算机断层扫描（CT）成像以及具有高动态范围的静态成像。
2315N平板探测器的功能和优点包括：
- 74.8μm像素间距
- 3072 x 1944像素
- 高灵敏度和高动态范围模式
- 高工作电压160 kV
- 适用于高达191 fps的实时成像
- 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并选项
- 高DQE
- 各种闪烁器选项
- X射线发生器同步的输入/输出
- Camera Link或GigE Vision数据连接
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