奥林巴斯的X射线荧光（XRF）矿石分析仪具有很高的分析性能，可以实时提供地球化学数据，从而有助于用户快速确定土壤、岩石和矿石的多元素特性。XRF技术的新发展，增加了可测元素的数量，改进了检出限，并降低了检测时间。

Vanta VMR XRF矿石分析仪在金矿上和金矿实验室中，可以快速方便地测量与黄金勘探相关的很多种类的样本，而且还可以对精炼黄金产品进行快速准确的分析。


优势特性：
1.通过对土壤、钻屑和钻芯中的探途元素进行XRF分析，可以快速发现潜在的金元素矿化的情况。
2.使用XRF分析仪对样本进行预先筛选，可以获得优选样本，合理使用分析经费，以及更准确地确定钻井的区域。
3.通过XRF技术绘制结构特性的映射图，并识别矿化蚀变区域，可以使用户更好地了解矿床，并有助于成功完成建模和定向工作。由于减少了稀释方式的使用，因此可以获得更好的金采收量。
4.在岩石地球化学应用中使用XRF技术，可以迅速、经济地为岩石进行分类。
5.用于在矿产勘探和矿体定向应用中探测金元素和金探途元素的便携式XRF矿石分析仪

金矿床的相关地球化学特征 

探途元素和蚀变地球化学
大多数金矿床都有其特定的地球化学特征（如上表所示）。XRF矿石分析仪可以探测到这些地球化学特征，从而可使地质学家更清楚地了解他们正在勘查的地质系统。典型的金探途元素包含As、Cu、Pb、Zn、Sb、Bi、Ag和W。

常见金探途元素的典型XRF检出限（Vanta VMR型号地球化学模式）

*每个光束120秒的检测时间，无干扰的二氧化硅基质；请参阅奥林巴斯有关检出限的文件，了解有关更低检出限的详细探讨说明。

用于探测金元素的XRF矿石分析仪

*，手持式XRF矿石分析仪不能对地质样本中低含量的金元素进行直接检测（如：低ppm和ppb值）?；谑笛槭业幕鹗越鸱ū黄毡槿衔欠治鼋鹪氐挠叛》椒?。金元素的L线处于X射线荧光能量频谱的非常拥挤的区域。在频谱的这个区域中，来自其它元素（如：As, Zn, W和Se）的干扰，会使分析仪得出错误的金元素存在的判断。

不过，在某些特定的情况下，如：高品位的（> 5 ppm）石英脉环境（相对来说没有干扰）或在精炼的金产品中（金元素有很高的含量），可以使用XRF矿石分析仪对金元素进行直接检测。

金矿上越来越多的实验室正在使用XRF技术替代或补充火试金法，对矿石进行分析。请参阅奥林巴斯应用注释“在金矿实验室中使用手持式XRF矿石分析仪”。在矿山上，工作人员也会使用奥林巴斯手持式XRF矿石分析仪检测活性炭中的金元素。请参阅奥林巴斯应用注释“检测活性炭中的金元素”。

                                                  用于在矿产勘探和矿体定向应用中探测金元素和金探途元素的便携式XRF矿石分析仪

图像由Arne等提供（2014） – 在金元素勘探中对来自便携式XRF分析仪的资产规模数据的使用 – 优势和局限性，地球化学：勘探，环境，分析。 
来自加拿大的金元素勘探项目，XRF分析仪在野外绘制的表面土壤中As、Cu和Pb元素等值线图对比ICP分析。