XCH12000X射线面密度测量仪设备用途：用于对锂电池正极涂布的面密度（单位面积的重量）进行非接触式在线检测。
测量原理：X射线属于电磁波，X射线穿透锂电池正极涂布极片时，发生强度衰减，其衰减符合指数规律，与涂布面密度相关，依据探测射线的衰减实现涂布面密度的测量。钴酸锂，锰酸锂，磷酸铁锂，三元等正极材料等效原子序数高，与基材铝箔相比，对于X射线的吸收系数比较大， 所以基材的正常波动对测量结果影响很小。

XCH12000X射线面密度测量仪设备特点：
1、  光斑小：其光斑物理尺寸6mm*6mm、6mm*9mm、6mm*12mm等多种规格，具有很高的空间分辨能力，极片抖动对测量无影响。
2、  实现测量：可根据正极涂布的具体规格，控制调节X光机的管电压、管电流等参数，构造测量条件。
3、  *的长寿命设计：X射线发生器采用上电软启动、双24位ADC双独立闭环控制、油侵风冷散热等技术，?；ず诵牟考光管10年不老化，探测器采用精密焊接密封工艺，保证核心电离室30年不漏气。
4、  高精度O型扫描架：使用高惯性矩钢结构厚壁管梁整体扫描O型框架，扫描基面采用数控中心一次定位加工，位置精度高，整体稳定性强。
5、  不断带标定装置：测量仪安装有标定装置，不必断带，十分方便用户对测量仪进行在线标定。
6、  豁免级防护：距离设备表面10cm处，剂量率不超过1μSv/h。
7、  闭环控制功能：具备与涂布机联机的功能，可实现涂布质量闭环控制。
8、  多架同位测量功能：具备多架测量仪联机测量功能，沿同一轨迹跟踪测量，得到净涂布面密度。
技术指标：
1、  面密度测量精度（2σ）：±0.1%；
2、  重复测量精度（2σ）：±0.05%；
3、  测量范围：0~1000g/m²；
4、  X射线发生器阳极电压：5~20kV；
5、  系统响应时间（硬件）：小于1ms，测量反应时间可编程控制；
6、  扫描速度：0~0.5m/s；
7、  扫描同步精度：0.04mm；
8、  光电编码器定位精度：0.02mm；
9、  平均*时间：X射线发生器50000h；X射线探测器80000h。
辐射防护：距离设备表面10cm处，剂量率不超过1μSv/h，达到豁免等级，无需办理辐射安全许可证。

                                                XCH12000型锂电面密度测量仪