FT9500X X射线荧光镀层厚度测量仪通过新型X射线聚焦光学系统（聚焦导管）的开发，用我司的膜厚*小的实际照射直径30μm实现高亮度X射线束。为此，可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想精度的导线架，掐接头，柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。另外，相比FT9500，以往1/5的照射面积可以测量同等的精度。
FT9500X X射线荧光镀层厚度测量仪特长
FT9500X产品规格
可测量元素原子序数13(Al)～83(Bi)
总电源管电压：50kV
管电流：1mA
检测器半导体检测器(无需液氮)
X射线聚光聚焦导管方式
样品观察彩色CCD摄像头（附变焦功能）
焦点激光焦点
滤波器Au超薄膜厚测量用滤波器
样品平台240(W)×175(D)mm
X：220mmY：150mmZ：150mm
420(W)×330(D)mm
X：400mmY：285mmZ：50mm
操作方式电脑19英寸液晶显示器
测量软件薄膜FP法（多5层）薄膜检量线
数据处理Microsoft®Excel、Microsoft®Word
安全功能样品室门连锁