1. XOS 公司介绍：

◆ XOS® (X-Ray Optical Systems, Inc. X射线光学系统公司) 总部位于美国纽约州*Albany, 为丹纳赫水质平台子公司。

◆ XOS®是一家应用材料和元素分析设备供应商，为重视控制材料质量与性能的行业监管部门和客户提供拥有技术的分析设备。

◆ XOS公司拥有研发和设计能力，与美国的众多研究机构有合作关系，曾经参与了许多设计，包括美国宇航局的行星元素探测计划（XRF方法）等。

◆ XOS拥有X射线光学技术，能够帮助客户将测量灵敏性，减少测量时间，空间分辨率，缩小设备尺寸，并且节约设备成本。

◆ XOS公司的光学晶体应用于波长色散型XRF、微区聚焦XRF、扫描电镜等X射线仪器。XOS公司与其他著名的XRF生产厂商都有合作，提供给它们必需的光学聚焦晶体。

◆ XOS公司在元素分析有着技术应用，XOS公司与美国NASA下属的JPL实验室合作，研发了一款2020计划的XRF元素分析仪

2. 主要技术参数和优点：

1) 采用DCC®（双曲面弯晶技术），取代传统的滤光片和准直器，真正实现单色光激发样品；

2) 检测光斑1mm，适合测试不规则样品和细小样品；

3) 采用SDD硅漂移探测器，分辨率高，无需液氮冷却；

4) 满足美国ASTM F2853标准；

5) 可同时测试涂层与基材中的重金属含量；

6) 采用基本参数法，可分析各类未知样品；等等

美国XOS HD-Prime 台式X射线荧光光谱仪

用于玩具和儿童用品

HD Prime用XOS*的光谱技术，测量玩具和儿童用品中的铅以及其他有毒元素，可测量出微量成份。HD Prime分析仪采用光学分析技术，可分别测出产品基材和涂层中有毒元素的成份。这种分析技术可测量目前和将来由CPSIA规定的含量。HD Prime分析仪有用户满意的界面，既能快速定性检测，又能定量分析。测量是非破坏性的，不需要费钱耗时的样品准备，而且不会损坏被测商品，已备复查。光谱仪使负责产品安全的行业和政府管理部门能够快速、方便地检测产品。

检测铅和其它有毒元素

应用领域

•玩具和儿童用品中多种有毒元素测量，符合CPSIA规定的要求

•定性定量分析有毒元素

•使用场合:工厂的生长线上和实验室、第三方检测实验室、零售商、检测部门

•符合ASTM F2853和F2617标准

性能和特点

•测定有毒元素（Pb，Sb，As，Ba，Cd，Cr，Hg，Se，Br，and CI)

•HD Prime 可分别测出产品基材和涂层中有毒元素的成份

•1mm小面积分析，能检测不规则形状

•使用方便，可供工厂、实验室使用，2小时培训

•不需要样品准备：无须剥离和浸煮涂层，从而不破坏产品结构

•定性检测模式：提供有毒元素快速检测

•定量检测模式：确定涂层和基底材料中元素成份