DM8000型 X荧光光谱仪是由本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到的*水平的分析仪器。它采用波长色散X射线荧光分析技术(WDXRF)，多道同时测量从Na到U的任意十种元素，对大多数元素分析的含量可低至ppm高至*。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作人员劳动强度低、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。

DM8000型 X荧光光谱仪关键部件采用进口产品，如X射线管采用Varian公司生产的400W薄铍端窗X射线管，Na、Mg等轻元素道探测器窗采用Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗，恒温室温度控制精度小于0.1℃，流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa，由此使本光谱仪具有*的精度和准确度，达到的*水平。本光谱仪屏蔽防护的良好设计保证无任何射线泄漏，满足辐射豁免要求。

DM8000型X荧光光谱仪应用于我国水泥行业尤其显示出其*性。由于该款仪器是为水泥行业专门开发的，*标准GB/T 176-2008 《水泥化学分析方法》和建材行业*标准JC/T 1085-2008《水泥用X射线荧光分析仪》，其性能对水泥行业来说比进口同类产品更好，而价格仅为进口同类产品的几分之一，具有*的价格性能比。另外国内企业售后服务的方便程度是国外企业所无法相比的。

主要技术指标

1.    分析元素或其氧化物种类:      从Na到U的任意十种元素及其氧化物，以水泥为例

（下同）具体是：

Na₂O，MgO，Al₂O₃，SiO₂，SO₃，TiO₂，K₂O，CaO，Fe₂O₃等。

2.    分析范围宽度：  “控制目标值±2.5%”的范围内，由所标定的曲线决定。

3.    系统分析时间：  典型值：180秒。

4.    精密度：   谱线强度的变异系数：  εSiO₂＜0.40%，εSO₃＜2.0%，εCaO＜0.15%。

5.    稳定性：   谱线强度的极差：          RSiO₂＜1.5%，RSO₃＜5.0%，RCaO＜0.5%。

6.    线性：       含量的误差： ENa₂O＜0.035%，EMgO＜0.10%，EAl₂O₃＜0.14%，

   ESiO₂＜0.14%，ESO₃＜0.10%，ETiO₂＜0.035%，

   EK₂O＜0.07%，ECaO＜0.18%，EFe₂O₃＜0.10%。

7.    X射线管功率： 400W（高50KV，大8mA）。

8.    恒温室温度：   36℃±0.1℃

9.    使用条件：   环境温度：15~+28℃，相对湿度：≤75%(25℃)，电源：220V±20V，50Hz。

10.  整机功耗：     <50W。

11.  尺寸及重量：   长×宽×高：790mm×760mm×1200mm，重量：195kg。