美國(guó)SD全新顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀

品牌 ： 傳動(dòng)科學(xué)
型號(hào) ： 4511L    4511M   4511M6
測(cè)量范圍 ： 25 至250Hz, 正弦曲線
測(cè)量精度 ： 40 至250Hz
電源 ： 100,120,220,240VAC+/-10% at 50 or 60 Hz
用途 ： 有效檢測(cè)出這些多余物體,提高產(chǎn)品可靠性
加工定制 ： 是
外形尺寸 ： 22mm~150mmmm
重量 ： 20kg
頻率范圍 ： 25 至250Hz, 正弦曲線
頻率分辨率 ： 1Hz
時(shí)間 ： 每個(gè)程序0.1 至25.5 秒
時(shí)間程序分辨率 ： 0.1 秒
振幅 ： 0.1 至25.50’G’峰值,4 位數(shù)顯
類型：電磁振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)振動(dòng)方向：垂直主動(dòng)機(jī)功率：100kW頻率范圍：250Hz工作臺(tái)尺寸：150㎜電源電壓：220V振幅：5㎜用途：顆粒碰撞噪聲檢測(cè)加工定制：是臺(tái)體尺寸：500㎜試驗(yàn)臺(tái)重量：10kg有效載荷：500g沖擊加速度：1000靈敏度：75dB振動(dòng)加速度：20g電壓：20mv
設(shè)備用途：用于電子元器件封裝后,對(duì)器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn),目的在于檢測(cè)器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子,是一種非破壞性實(shí)驗(yàn). 用來(lái)測(cè)試電器零件從而提高電器零件的可靠性
適用范圍：用于檢測(cè)集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒.
技術(shù)原理：顆粒碰撞噪聲檢測(cè)（Particle Impact Noise Detection，PIND）試驗(yàn)是一種多余物檢驗(yàn)的有效手段.其原理是利用振動(dòng)臺(tái)產(chǎn)生一系列的機(jī)械沖擊和振動(dòng)，通過(guò)沖擊使被束縛在產(chǎn)品中的顆粒（即多余物）松動(dòng)，再通過(guò)一定頻率的振動(dòng)，使多余物在系統(tǒng)內(nèi)產(chǎn)生位移。活動(dòng)多余物在產(chǎn)品中發(fā)生位移的過(guò)程，是多余物相對(duì)產(chǎn)品殼體的滑動(dòng)過(guò)程和撞擊過(guò)程的一個(gè)隨機(jī)組合過(guò)程。在這個(gè)過(guò)程中，將產(chǎn)生應(yīng)力彈性波和聲波。兩種波在產(chǎn)品殼體中傳播，并形成混響信號(hào)，這個(gè)混響信號(hào)被定義為位移信號(hào)。采用壓電傳感器拾取到位移信號(hào)后，經(jīng)前置放大器放大后，位移信號(hào)由檢測(cè)裝置的主機(jī)采集、處理并顯示。檢測(cè)人員可以依據(jù)顯示的信號(hào)波形判定出信號(hào)性質(zhì)，以此得出檢測(cè)結(jié)論. 

多年來(lái)， PIND 系統(tǒng) 給用戶設(shè)計(jì)提供了簡(jiǎn)單，可靠， 及經(jīng)濟(jì)性能好的顆粒噪音探測(cè)系統(tǒng)(PIND).   用來(lái)測(cè)試電器零件從而提高電器零件 的可靠性，型號(hào)如下：
4511L
中型測(cè)試系統(tǒng),臺(tái)面50mm 
4511L-R
R系列具有寬脈沖持續(xù)符合美軍標(biāo)繼電器檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)MIL_STD 39016D
4511M
大型測(cè)試系統(tǒng),臺(tái)面100mm
4511M-R
R系列具有寬脈沖持續(xù)符合美軍標(biāo)繼電器檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)MIL_STD 39016D

美國(guó)顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀
美國(guó)SD公司**。 
15年專業(yè)粒子噪聲檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)，傳動(dòng)科學(xué)技術(shù)有限公司竭誠(chéng)為您提供專業(yè)優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。包括顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀PIND、及其附件水溶膠、膠片的銷售，維修（聲耦合劑維護(hù)及試件夾具設(shè)計(jì)，實(shí)驗(yàn)方案指導(dǎo)）。
      美國(guó)SD顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀用于電子元器件封裝后,對(duì)器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn),目的在于檢測(cè)器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子,是一種非破壞性實(shí)驗(yàn). 用來(lái)測(cè)試電器零件從而提高電器零件的可靠性。用于檢測(cè)集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒. 

選型說(shuō)明:
每種型號(hào)的顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀都包括:控制器,振動(dòng)臺(tái),傳感器, 靈敏度測(cè)試單元,軟件, 示波器, 電纜, 耗材, 及相關(guān)文件.其型號(hào)選擇主要根據(jù)被測(cè)件的重量和外型尺寸而定,我們的標(biāo)準(zhǔn)配置采用的是M230振動(dòng)臺(tái)可測(cè)負(fù)載重量,全頻率范圍內(nèi)為400克,換能器臺(tái)面直徑為22mm~150mm,換能器因在其中心區(qū)域50%面積處?kù)`敏度zui高,故實(shí)際臺(tái)面選擇時(shí)換能器面積要略大于被測(cè)件zui大扁平面面積.產(chǎn)品型號(hào)包括：4511L（50mm臺(tái)面）4511M（100mm臺(tái)面） 4511M6（150mm臺(tái)面）

產(chǎn)品型號(hào)：