CH-15JE 测量显微镜
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- 公司名称 北京东立环宇电子科技有限公司
- 品牌
- 型号 CH-15JE
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2016/7/4 8:36:02
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一、测量显微镜CH-15JE特点
测量显微镜是光学计量仪器之一种，它结构简单，操作方便，使用范围极广，主要用途如下：直角坐标中测定长度，例如测定孔距，几面距离、刻线距离、刻线宽度、键槽宽度狭缝宽度、通孔外圆直径等等：转动度盘测定角度，例如对刻度盘、样板、量规、钻孔、模板、*磨制及几何形状复杂的零件进行角度测量；作为普通显微镜观察，以比较法检查工作表面粗糙度，鉴定冶金工业的矿石标本，检定印刷照相制版，检验纺织纤维等等。
二、CH-15JE主要技术参数
目镜：10X
物镜：2.5X，10X
工作距离：58.84mm、7.81mm
视场直径：5.6mm、1.4 mm
总放大倍数：25X、100X
测量工作台：直径120mm， XY轴移动范围50mm×13mm，转动范围0度-360度，刻度盘之分度值1度，刻度盘游标读数值： 6’
测量台与物镜间之zui大距离：80mm
数显测微器分度值：0.01mm，
测量精度：仪器示值误差±（5+L/15）um（仪器示值误差包括测量误差与仪器系统误差）
注：测量地点温度变化（20±3）℃； L—被测件长度（mm）
二、CH-15JE主要技术参数
目镜：10X
物镜：2.5X，10X
工作距离：58.84mm、7.81mm
视场直径：5.6mm、1.4 mm
总放大倍数：25X、100X
测量工作台：直径120mm， XY轴移动范围50mm×13mm，转动范围0度-360度，刻度盘之分度值1度，刻度盘游标读数值： 6’
测量台与物镜间之zui大距离：80mm
数显测微器分度值：0.01mm，
测量精度：仪器示值误差±（5+L/15）um（仪器示值误差包括测量误差与仪器系统误差）
注：测量地点温度变化（20±3）℃； L—被测件长度（mm）
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