SWT-9000N-TEITSU帝通电子研究所 膜厚计
SWT-9000N-TEITSU帝通电子研究所 膜厚计
SWT-9000N膜厚计
●测量范围是0 ~ 2.0毫米
●零标准调整就可以测量
用途：
●耐酸铝/涂装
参数：
| 测量范围 | 0 ~ 2.00毫米 |
| 表示分辨率 | 1μm：0～999μm 切换0.1μm：0 ~ 400μm 0.5μmμm：400～500μm 0.01毫米：1.00?2.00毫米 |
| 测量精度 | 均匀方面对 0 ~ 100μm：±1μm或指示值的±2 % 101μm?2.00毫米：±2%以内 |
| 表示方式 | 数字显示LCD |
| 内存 | 标准曲线×1 |
| 探针 | 一点恒压接触式，V切割付，φ13×47mm |
| 电源 | 单3电池（1.5 V）×2自动パワーオフ |
| 使用温度 | 0~40℃（不得结露） |
| 尺寸重量 | 72（W）×30（H）×156（D）毫米，约270克 |
| 附件 | 标准厚板，测试用零板、收纳盒 |
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高斯摩(成都)国际贸易有限公司
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