美国UVP表面晶粒检查灯可快速检查加工表面的瑕疵，灰尘，异物等。主要应用：LCD滤光片、偏光板、晶圆、半导体、玻璃或金属表面刮痕及灰尘检查

美国UVP表面晶粒检查灯主要特点：

• 检查精密加工表面的瑕疵、污点、异物等

• 快速无损检测小至10微米的瑕疵、小颗粒

• 有效地探测出生产过程是早期的污物，节省生产时间及不必要的成本

• 100瓦高强度汞灯发出543,574及576nm波长光谱

• 特制的黄色滤色片滤掉波长小于500nm的光线，防止产生荧光干扰

• 高对比度的光线能清晰检测到精细的表面粒子

• B-100Y是铝合金外壳; B-100YP带塑料外壳

• 灯头人体工学设计，易于操作

B-100Y和B-100YP

这些模型特征黄滤块波长小于500nm时，产生在543三强的汞线，574和576nm。高对比度的光产生的细颗粒表面检测。下降到10微米的颗粒都可见这灯。b-100y与铝的住房建筑用塑料外壳b-100yp。这些灯的半导体晶片检查作为光致抗蚀剂的吸收发生在450nm是zui的。

美国UVP公司生产的B-100Y表面晶粒检查灯的规格：

UV光源：365nm长波紫外线

功率：100W

滤色片：黄光

尺寸： B-100Y：216X140mm

重量：5.33kg

电源线：2.44米

B-100YP：248X152mm

重量：5.67kg

电源线：2.44米

美国UVP公司生产的B-100Y表面晶粒检查灯的型号：