谷物面粉分析儀NIR-MS-3000F采用近紅外透射光譜法測(cè)量谷物和油籽中蛋白質(zhì),油分和水分含量,在進(jìn)口谷物面粉分析儀品牌中具有較低的谷物面粉分析儀價(jià)格。

谷物面粉分析儀為農(nóng)民，糧食購(gòu)買者,面粉廠,面食生產(chǎn)者和谷物加工者提供了一種快速的方法來確定谷物的組成，不需要研磨樣品,簡(jiǎn)單易用。同樣的系統(tǒng)測(cè)量全麥小麥以及面粉和膳食。
谷物面粉分析儀可與SeedCount圖像分析系統(tǒng)和Specktek軟件相結(jié)合，提供完整的小麥和面粉測(cè)量系統(tǒng)。
谷物面粉分析儀應(yīng)用：
小麥蛋白質(zhì)和水分
面粉和粗面粉中的蛋白質(zhì)，水分，灰分，吸水和淀粉損傷
在面粉和粗面粉斑點(diǎn)
膳食中的蛋白質(zhì)和水分
蛋白質(zhì)，水分，油和淀粉在大豆，玉米，大米和其他谷物和油籽。
蛋白質(zhì)，水分和油在玉米粉，米粉，豆粕和其他加工糧食產(chǎn)品。

谷物面粉分析儀F是臺(tái)式面粉分析儀，專為快速測(cè)量小麥，大麥和其他谷物中的蛋白質(zhì)和水分而設(shè)計(jì)。 包括面粉，粗粒小麥粉，羽扇豆粉，豆粕，大豆粉，玉米粉和粉末的粉末可以在容易裝載和清空的5mm深的旋轉(zhuǎn)盤中測(cè)量。 多可以收集30個(gè)副掃描的顆?；蚍勰骄峁┏錾臏?zhǔn)確性和精度。 觸摸屏PC為用戶提供了一個(gè)簡(jiǎn)單易用的界面。 一旦NIR分析儀已經(jīng)預(yù)測(cè)了所需的參數(shù)，軟件會(huì)提示一組定制的數(shù)據(jù)字段。 操作員輸入以下信息：
示例ID
測(cè)試重量和篩選重量
存儲(chǔ)位置
品種
標(biāo)號(hào)
來源（農(nóng)場(chǎng)，圍場(chǎng)或供應(yīng)商）
貨物ID。
谷物面粉分析儀規(guī)范：
觸摸屏操作
測(cè)量小麥蛋白質(zhì)和水分
測(cè)量面粉和粗面粉中的蛋白質(zhì)，水分，灰分，吸水性和淀粉損傷
地磅軟件可用
互聯(lián)網(wǎng)軟件可用。
一旦數(shù)據(jù)字段完成，信息被存儲(chǔ)在機(jī)載存儲(chǔ)器中，然后可以被發(fā)布到可以從智能手機(jī)，平板電腦或PC獲取它的網(wǎng)站。 按下按鈕即可獲得報(bào)告：
列表結(jié)果
光譜
趨勢(shì)圖
箱平均每個(gè)筒倉(cāng)，掩體或棚子。
近紅外透射（NIT）全谷物和面粉分析：
下圖顯示了谷類，油料種子和面粉的NIT譜圖。
光通過麥片或面粉的樣品，并且NIR光能被吸收，與蛋白質(zhì)，水分和淀粉的濃度成比例。 在特定波長(zhǎng)吸收的光越多，蛋白質(zhì)，水分和淀粉的濃度就越高。
已經(jīng)開發(fā)了校準(zhǔn)模型來將樣品吸收的光量與每種組分的濃度相關(guān)聯(lián)。 這些校準(zhǔn)被存儲(chǔ)在內(nèi)存中，并用于預(yù)測(cè)進(jìn)入的谷物和面粉樣品中的蛋白質(zhì)，水分和其他成分。
圖像分析系統(tǒng)和Specktek軟件：
觸摸屏操作
測(cè)量長(zhǎng)度，寬度，厚度
措施顏色
措施缺陷和破碎的種子
措施包括鐮刀菌，黑荊棘，黑麥，黃莓
面粉產(chǎn)量
面粉和粗面粉的措施。
它包括一個(gè)高分辨率的掃描儀，多樣品托盤系統(tǒng)和一套強(qiáng)大的圖像分析程序來測(cè)量谷物，面粉和粗面粉的物理特性
谷物面粉分析儀如何工作：
從燈中發(fā)出的光，通過谷物或面粉的樣本。
光從顆粒或面粉的表面反彈，并通過樣品傳播，直到到達(dá)另一側(cè)。新出現(xiàn)的光線聚焦于平場(chǎng)光譜儀的狹縫中，該光譜儀在720-1100nm波長(zhǎng)范圍內(nèi)將光線分離成各個(gè)頻率。
然后將分離的光導(dǎo)向硅光電二極管陣列檢測(cè)器。該陣列檢測(cè)器測(cè)量每個(gè)頻率處的光的強(qiáng)度以產(chǎn)生所謂的樣品的NIT光譜。
在電磁波譜的這個(gè)區(qū)域內(nèi)，N-H（蛋白質(zhì)），C-H（脂肪和油）和O-H（水）和C-O-H（碳水化合物）吸收特定波長(zhǎng)的NIR光。 NIT譜包含有關(guān)這些組分濃度的信息。存儲(chǔ)在MRC計(jì)算機(jī)中的校準(zhǔn)模型將該信息轉(zhuǎn)換為％蛋白質(zhì)，％水分，％油，％淀粉，吸水率和淀粉損傷，并將結(jié)果顯示在屏幕上。
種子散布在樣品盤上并插入掃描儀模塊。
SeedCount軟件繪制每個(gè)種子周圍的邊界，并使用邊界內(nèi)的像素來定義每個(gè)參數(shù)。從面粉或粗粒面粉的100×100mm扁平樣品收集4個(gè)黑白掃描。測(cè)量這些掃描中每個(gè)點(diǎn)的強(qiáng)度，軟件確定黑色和棕色斑點(diǎn)。
四個(gè)掃描的平均值顯示為黑色大數(shù)據(jù)，
棕色，斑點(diǎn)，黑色/大ppm，棕色ppm。報(bào)告可以打印或存儲(chǔ)。
谷物面粉分析儀規(guī)格參數(shù)
波長(zhǎng)范圍：720-1100nm
光學(xué)探測(cè)器：硅二極管陣列
掃描速度：2-4秒
光源：汞燈10W
樣品托盤長(zhǎng)度：8mm,16mm,24mm
顯示：觸摸屏
電源：110-240VAC
重量和尺寸：12kg, 400x400x330mm
工作溫度：5-45°C