工作原理

X光方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器?；?/span>

技术指标

型号：Thick 800A

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

部分产品

X射线荧光测厚仪，X射线镀层测厚仪，x光镀层测厚仪， 国产镀层测厚仪，X荧光镀层测厚仪，国产X荧光镀层测厚仪，x光镀层测厚仪，X射线镀层测厚仪价格， XRF镀层测厚仪，国产电镀层测厚仪，X荧光镀层测厚仪，电镀层测厚仪，x射线荧光镀层测厚仪， x荧光镀层测厚仪价格，金属镀层测厚仪，X荧光电镀层测厚仪，镀层膜厚测试仪，无损金属镀层测厚仪，X光电镀层测厚仪，X荧光镀层测厚仪品牌，，X射线金属镀层测厚仪，x射线电镀层测厚仪，电镀镀层测厚仪，国产X射线镀层测厚仪，xrf镀层膜厚测试仪，X荧光镀层膜厚仪，X射线镀层膜厚仪。

应用领域

X光镀层测厚仪广泛应用在黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定，主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业,同时在电子电器、五金工具、国家电网企业、高压开关、卫浴等企业广泛应用。

标准配置

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机