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以品質(zhì)樹立品牌 南京芯測專注半導(dǎo)體測試設(shè)備
2022年09月27日 11:23:06
來源：化工儀器網(wǎng) 作者：羊舌木 點(diǎn)擊量：7346
南京芯測軟件技術(shù)有限公司專注打造半導(dǎo)體晶圓級測試及芯片檢測等系統(tǒng)集成平臺。
【化工儀器網(wǎng) 本站速遞】芯片的電路與各類印制板電路一樣，PCB在制作過程中不同廠家，不同生產(chǎn)設(shè)備，都存在生產(chǎn)差異，甚至存在瑕疵或者缺陷。然而，芯片電路相比PCB電路，可以認(rèn)為是微觀電路，在制造過程中，采用了更加微觀的印制刻蝕技術(shù)，存在制造缺陷與瑕疵也是在所難免。因此，芯片測試十足重要，甚至能夠影響芯片最終的成品。
南京芯測軟件技術(shù)有限公司(以下簡稱：南京芯測)專注打造半導(dǎo)體晶圓級測試及芯片檢測等系統(tǒng)集成平臺。目前南京芯測主要研發(fā)在片測試系統(tǒng)設(shè)備經(jīng)銷與晶圓在片測試軟件，產(chǎn)品包括手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經(jīng)銷ESD測試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測設(shè)備等。南京芯測服務(wù)的領(lǐng)域涵蓋半導(dǎo)體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量，大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應(yīng)用行業(yè)。
GP2000探針臺
GP2000探針臺
GP2000探針臺可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測量，能夠提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案。一臺機(jī)器即可適配垂直探卡、裂片后的藍(lán)膜或多Site芯片測試。并且具有多孔吸附式載物臺設(shè)計(jì)，更好地兼容薄晶圓固定。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1.高品質(zhì)顯微鏡搭配高分辨率CCD系統(tǒng)，可直觀了解扎針情況，提高扎針的準(zhǔn)確性和效率；
2.可升級的高低溫系統(tǒng)，為芯片提供更 加成熟穩(wěn)定的老化測試環(huán)境；
3.緊湊且可靠的機(jī)械設(shè)計(jì) ，更適用于芯的測試及建模系統(tǒng)升級；
4.能夠根據(jù)未來需求，可提供多種升級 模塊，輕松實(shí)現(xiàn)功能升級；
5.短軸式拉桿設(shè)計(jì)，將更加符合新一 代芯片系統(tǒng)測試的需求。拉桿在任 意位置可停留、極限位置能快速鎖 定、分離位可固定，將進(jìn)一步防止誤操作，提高測試效率，節(jié)省成本。
TS2000-IFE8英寸全自動RF|硅光|直流探針臺
TS2000-IFE8英寸全自動RF|硅光|直流探針臺
TS2000-IFE8英寸全自動RF|硅光|直流探針臺是一個自動化探針臺，可以從使用一開始或在測試領(lǐng)域內(nèi)任何需要時轉(zhuǎn)換為帶有 Waferwallet MAX 的全自動探針臺。主要應(yīng)用在負(fù)載拉動、RF、mmW、硅光子學(xué)、設(shè)計(jì)驗(yàn)證(產(chǎn)品工程)或在定義的測試環(huán)境中測試MEMS和其他傳感器。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1. 集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證，在-60~300°C寬溫度范圍內(nèi)的失效分析；
2.晶圓級可靠性擴(kuò)展靈活性；
3.可編程顯微鏡運(yùn)動，以更自動化和易于使用；
4.最大限度地減少毫米W和探測與主動探針的板到吸盤的距離；
5.簡單的晶片或單個DUT從前面加載；
6.完全集成Prober控制，能夠用于更快、更安全、更方便的系統(tǒng)和測試操作。
南京芯測的目標(biāo)是成為國內(nèi)晶圓級在片測試，器件測量系統(tǒng)軟硬件的相當(dāng)精良的供應(yīng)商，以滿足國內(nèi)用戶需求。在接下來的時間里，南京芯測也將繼續(xù)開發(fā)半導(dǎo)體測試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務(wù)，為用戶帶來更好的產(chǎn)品體驗(yàn)。
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