Zeta電位納米粒度儀是用于測(cè)試納米粒徑及粒徑分布的全新軟件，采用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)及電泳光散射技術(shù)，可以實(shí)時(shí)、準(zhǔn)確地檢測(cè)膠體溶液中納米顆粒的粒徑及粒徑分布，以及Zeta電位等參數(shù)。
Zeta電位納米粒度儀的原理主要基于電泳遷移和動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)。以下是該原理的詳細(xì)解釋：
1、電泳遷移：Zeta電位納米粒度儀通過施加一個(gè)電場(chǎng)，使帶電的納米顆粒在電場(chǎng)中發(fā)生定向遷移。這個(gè)遷移的速度與顆粒的電荷量、電場(chǎng)強(qiáng)度以及電介質(zhì)的介電常數(shù)有關(guān)。具體來說，負(fù)電荷的顆粒會(huì)向正電極方向遷移，而正電荷的顆粒會(huì)向負(fù)電極方向遷移。
2、動(dòng)態(tài)光散射：在電場(chǎng)作用下，運(yùn)動(dòng)的納米顆粒當(dāng)受到激光照射時(shí)，會(huì)產(chǎn)生散射光。由于多普勒效應(yīng)，這個(gè)散射光的頻率會(huì)發(fā)生變化。散射光與參考光疊加后，頻率的變化會(huì)更加明顯。通過測(cè)量這個(gè)頻率變化，可以推算出顆粒的運(yùn)動(dòng)速度。
3、Zeta電位的計(jì)算：根據(jù)顆粒在電場(chǎng)中的遷移速度和所施加的電場(chǎng)強(qiáng)度，可以計(jì)算出顆粒的電動(dòng)力學(xué)電荷。進(jìn)一步地，通過考慮電介質(zhì)的影響，可以推算出顆粒表面的電位，即Zeta電位。
綜上所述，Zeta電位納米粒度儀通過結(jié)合電泳遷移和動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)，可以準(zhǔn)確地測(cè)量納米顆粒的Zeta電位和粒度分布。這對(duì)于理解納米顆粒的分散穩(wěn)定性、相互作用以及在各種應(yīng)用中的行為具有重要意義。
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